霍爾效應測試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

霍爾效應的測量是研究半導體的重要實(shí)驗方法。利用霍爾系數和電導率的聯(lián)合測量，變溫霍爾實(shí)驗儀可以用來(lái)確定半導體的導電類(lèi)型和載流子濃度。通過(guò)測量霍爾系數與電導率溫度的變化，可以確定半導體的禁帶寬度、雜質(zhì)電離能及遷移率的溫度系數等基本參數。

霍爾效應測試儀采用現代電子技術(shù)和計算機數據采集系統，對霍爾樣品鉆弱場(chǎng)條件下進(jìn)行變溫霍爾系數和電導率的測量，來(lái)確定半導體材料的各種性質(zhì)。

霍爾效應測試儀技術(shù)參數：

電  磁  鐵：0-300mT可調

勵磁電源：0-可調，可自動(dòng)換向

穩  定  性：<±0.1%

數字特斯拉計：0-2000mT三位半數字顯示

恒流源輸出：1mA

穩  定  性：±0.1%

數據采集系統霍爾電壓測量分辨率：1uV

溫度變化測量范圍：80-400K

工作電源：AC 220V;50Hz

功率范圍：200W

霍爾效應測試儀實(shí)驗裝置：

變溫霍爾測試儀主要是由電磁鐵、可自動(dòng)換向穩流源、恒溫器、測溫控溫系統、數據采集及數據處理系統等。